字数:13.6万字 出版社:机械工业出版社
本书介绍了碳化硅功率器件的基本原理、特性、测试方法及应用技术,概括了近年学术界和工业界的新研究成果。本书共分为9章:功率半导体器件基础,SiCMOSFET参数的解读、测试及应用,双脉冲测试技术,SiC器件与Si器件特性对比,高di、dt的影响与应对——关断电压过冲,高dv、dt的影响与应对——crosstalk,高dv、dt的影响与应对——共模电流,共源极电感的影响与应对,以及驱动电路设计。
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