作者：曹俊诚 字数：14.9万字 出版社：华东理工大学出版社

本书从太赫兹辐射源、探测器及相关测试技术出发，结合作者在太赫兹频段器件测试、系统应用及相关领域测试的经验，系统地介绍了太赫兹频段光电测试技术中所涉及的基本理论和概念、测试原理与方法、仪器组成和主要技术特点。同时，对实际测试过程中的细节和出现的问题进行讨论和分享。本书除绪论外共6章，分别介绍了太赫兹频段光电测试过程中涉及的辐射源、探测器及探测技术、真空技术、低温技术，太赫兹激光技术、光谱技术以及光电测试技术的应用等。绪论介绍了太赫兹频段光电测试技术的发展历史、概况、特点，以及在光电测试技术中的数据处理方法。

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